ورود به حساب

نام کاربری گذرواژه

گذرواژه را فراموش کردید؟ کلیک کنید

حساب کاربری ندارید؟ ساخت حساب

ساخت حساب کاربری

نام نام کاربری ایمیل شماره موبایل گذرواژه

برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید


09117307688
09117179751

در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید

دسترسی نامحدود

برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند

ضمانت بازگشت وجه

درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب

پشتیبانی

از ساعت 7 صبح تا 10 شب

دانلود کتاب X-Ray Diffraction by Polycrystalline Materials : Instrumentation and Microstructural Analysis

دانلود کتاب پراش اشعه ایکس توسط مواد پلی کریستالی: ابزار دقیق و تجزیه و تحلیل ریزساختاری

X-Ray Diffraction by Polycrystalline Materials : Instrumentation and Microstructural Analysis

مشخصات کتاب

X-Ray Diffraction by Polycrystalline Materials : Instrumentation and Microstructural Analysis

ویرایش:  
نویسندگان:   
سری:  
ISBN (شابک) : 9780470394533, 1847045715 
ناشر: ISTE 
سال نشر: 2006 
تعداد صفحات: 385 
زبان: English 
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) 
حجم فایل: 6 مگابایت 

قیمت کتاب (تومان) : 37,000



ثبت امتیاز به این کتاب

میانگین امتیاز به این کتاب :
       تعداد امتیاز دهندگان : 4


در صورت تبدیل فایل کتاب X-Ray Diffraction by Polycrystalline Materials : Instrumentation and Microstructural Analysis به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.

توجه داشته باشید کتاب پراش اشعه ایکس توسط مواد پلی کریستالی: ابزار دقیق و تجزیه و تحلیل ریزساختاری نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.


توضیحاتی در مورد کتاب پراش اشعه ایکس توسط مواد پلی کریستالی: ابزار دقیق و تجزیه و تحلیل ریزساختاری

این کتاب یک رویکرد فیزیکی به پدیده پراش و کاربردهای آن در علم مواد ارائه می‌کند. بخش اول ارائه تاریخی کشف پراش پرتو ایکس است. بخش دوم به توصیف پدیده فیزیکی پراش پرتو ایکس در حالت کامل اختصاص دارد. و کریستال های ناقص. تجزیه و تحلیل دقیق ابزارهای مورد استفاده برای مشخص کردن مواد پودری یا لایه های نازک در بخش سوم ارائه شده است. شرح پردازش سیگنال های اندازه گیری شده و نتایج آنها ارائه شده است. در بخش پایانی، نویسنده پیشرفت های اخیر مربوط به کمیت ها را ارائه می دهد. ادامه مطلب ... مقدماتی; فهرست؛ پیشگفتار؛ سپاسگزاریها؛ مطالعات در پراش اشعه ایکس; فصل 1 نظریه های سینماتیک و هندسی پراش اشعه ایکس; فصل 2 ابزار دقیق مورد استفاده برای پراش اشعه ایکس. فصل 3 پردازش داده استخراج اطلاعات; فصل 4 تفسیر نتایج. فصل 5 پراکندگی و پراش در بلورهای ناقص. فصل 6 مطالعه ریزساختاری نمونه های پلی کریستالی با جهت تصادفی. فصل 7 مطالعه ریزساختاری لایه های نازک; کتابشناسی - فهرست کتب؛ فهرست مطالب


توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی

This book presents a physical approach to the diffraction phenomenon and its applications in materials science.Part one is a historical presentation of the discovery of X-ray diffraction.Part two is devoted to a description of the physical phenomenon of X-ray diffraction on perfect and imperfect crystals.A detailed analysis of the instruments used for the characterization of powdered materials or thin films is proposed in part three. The description of the processing of measured signals and their results is given.In the final part, the author presents recent developments relating to quantitati.  Read more... Preliminaries; Contents; Preface; Acknowledgements; Studies in X ray Diffraction; Chapter 1 Kinematic and Geometric Theories of X ray Diffraction; Chapter 2 Instrumentation used for X ray Diffraction; Chapter 3 Data Processing Extracting Information; Chapter 4 Interpreting the Results; Chapter 5 Scattering and Diffraction on Imperfect Crystals; Chapter 6 Microstructural Study of Randomly Oriented Polycrystalline Samples; Chapter 7 Microstructural Study of Thin Films; Bibliography; Index





نظرات کاربران