Design for AT-Speed Test, Diagnosis and Measurement

طراحی برای تست، تشخیص و اندازه‌گیری سرعت AT اولین کتابی است که راه‌حل‌های عملی و اثبات‌شده طراحی برای آزمایش‌پذیری (DFT) را به مهندسان طراحی تراشه و سیستم، مهندسان آزمایش و مدیران محصول ارائه می‌کند. در سطح سیلیکون و همچنین در سطوح برد و سیستم. طراحان خواهند دید که چگونه اجرای تست تعبیه شده ساده‌سازی اشکال‌زدایی سیلیکونی و نمایش سیستم را ممکن می‌سازد. مهندسان تست تعیین خواهند کرد که چگونه تست تعبیه شده سطح برتری از تست، تشخیص و اندازه گیری در سرعت را بدون تجاوز از قابلیت های تجهیزات خود فراهم می کند. مدیران محصول یاد خواهند گرفت که چگونه زمان، منابع و هزینه های مرتبط با توسعه آزمایش، هزینه ساخت و نگهداری چرخه عمر محصولاتشان را می توان با طراحی تست تعبیه شده در محصول به میزان قابل توجهی کاهش داد. یک جریان طراحی کامل و تجزیه و تحلیل تاثیر آزمون تعبیه شده بر روی یک طرح، این کتاب را قبل از انجام هر گونه DFT باید "خوانده شود".

Design for AT-Speed Test, Diagnosis and Measurement is the first book to offer practical and proven design-for-testability (DFT) solutions to chip and system design engineers, test engineers and product managers at the silicon level as well as at the board and systems levels. Designers will see how the implementation of embedded test enables simplification of silicon debug and system bring-up. Test engineers will determine how embedded test provides a superior level of at-speed test, diagnosis and measurement without exceeding the capabilities of their equipment. Product managers will learn how the time, resources and costs associated with test development, manufacture cost and lifecycle maintenance of their products can be significantly reduced by designing embedded test in the product. A complete design flow and analysis of the impact of embedded test on a design makes this book a `must read' before any DFT is attempted.