دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
دسته بندی: فن آوری ویرایش: 1st Edition. نویسندگان: Ian A. Grout سری: ISBN (شابک) : 1846280230, 9781846280238 ناشر: سال نشر: 2005 تعداد صفحات: 380 زبان: English فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) حجم فایل: 3 مگابایت
در صورت تبدیل فایل کتاب Integrated Circuit Test Engineering: Modern Techniques به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب مهندسی تست مدار مجتمع: تکنیک های مدرن نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
با استفاده از کتاب و نرمافزار ارائهشده همراه آن، خواننده میتواند ترتیب تستر خود را برای بررسی جنبههای کلیدی مدارهای سیستم آنالوگ، دیجیتال و مختلط بسازد. طرح حمله بر اساس آزمایش سنتی، طراحی مدار و ساخت مدار به خواننده اجازه میدهد. قدردانی از یک رژیم آزمایشی از نقطه نظر همه علایق شرکتکننده نمونههای کار شده بر اساس کتابهای نظری، آزمایشهای عملی و تمرینهای شبیهسازی به خواننده میآموزد که چگونه مدارها را به طور کامل و مؤثر آزمایش کند.
Using the book and the software provided with it, the reader can build his/her own tester arrangement to investigate key aspects of analog-, digital- and mixed system circuits Plan of attack based on traditional testing, circuit design and circuit manufacture allows the reader to appreciate a testing regime from the point of view of all the participating interests Worked examples based on theoretical bookwork, practical experimentation and simulation exercises teach the reader how to test circuits thoroughly and effectively
Introduction to Integrated Circuit Test Engineering....Pages 1-16
Fabrication Processes for Integrated Circuits....Pages 17-39
Digital Logic Test....Pages 41-93
Memory Test....Pages 95-121
Analogue Test....Pages 123-142
Mixed-Signal Test....Pages 143-173
Input-Output Test....Pages 175-196
Design for Testability — Structured Test Approaches....Pages 197-223
System on a Chip (SoC) Test....Pages 225-234
Test Pattern Generation and Fault Simulation....Pages 235-255
Automatic Test Equipment (ATE) and Production Test....Pages 257-266
Test Economics....Pages 267-274