ورود به حساب

نام کاربری گذرواژه

گذرواژه را فراموش کردید؟ کلیک کنید

حساب کاربری ندارید؟ ساخت حساب

ساخت حساب کاربری

نام نام کاربری ایمیل شماره موبایل گذرواژه

برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید


09117307688
09117179751

در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید

دسترسی نامحدود

برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند

ضمانت بازگشت وجه

درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب

پشتیبانی

از ساعت 7 صبح تا 10 شب

دانلود کتاب The Power of Optical/IR Interferometry: Recent Scientific Results and 2nd Generation Instrumentation: Proceedings of the ESO Workshop held in Garching, Germany, 4-8 April 2005

دانلود کتاب قدرت تداخل سنجی نوری / مادون قرمز: نتایج علمی اخیر و ابزار دقیق نسل دوم: مجموعه مقالات کارگاه ESO که در گارچینگ ، آلمان ، 4-8 آوریل 2005 برگزار شد

The Power of Optical/IR Interferometry: Recent Scientific Results and 2nd Generation Instrumentation: Proceedings of the ESO Workshop held in Garching, Germany, 4-8 April 2005

مشخصات کتاب

The Power of Optical/IR Interferometry: Recent Scientific Results and 2nd Generation Instrumentation: Proceedings of the ESO Workshop held in Garching, Germany, 4-8 April 2005

ویرایش: 1 
نویسندگان: , , , ,   
سری: Eso Astrophysics Symposia 
ISBN (شابک) : 9783540742531, 9783540742562 
ناشر: Springer-Verlag Berlin Heidelberg 
سال نشر: 2008 
تعداد صفحات: 582 
زبان: English 
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) 
حجم فایل: 29 مگابایت 

قیمت کتاب (تومان) : 41,000



کلمات کلیدی مربوط به کتاب قدرت تداخل سنجی نوری / مادون قرمز: نتایج علمی اخیر و ابزار دقیق نسل دوم: مجموعه مقالات کارگاه ESO که در گارچینگ ، آلمان ، 4-8 آوریل 2005 برگزار شد: ستاره شناسی، اخترفیزیک و کیهان شناسی، علوم اندازه گیری، ابزار دقیق، امواج مایکروویو، RF و مهندسی نوری، پردازش سیگنال، تصویر و گفتار



ثبت امتیاز به این کتاب

میانگین امتیاز به این کتاب :
       تعداد امتیاز دهندگان : 7


در صورت تبدیل فایل کتاب The Power of Optical/IR Interferometry: Recent Scientific Results and 2nd Generation Instrumentation: Proceedings of the ESO Workshop held in Garching, Germany, 4-8 April 2005 به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.

توجه داشته باشید کتاب قدرت تداخل سنجی نوری / مادون قرمز: نتایج علمی اخیر و ابزار دقیق نسل دوم: مجموعه مقالات کارگاه ESO که در گارچینگ ، آلمان ، 4-8 آوریل 2005 برگزار شد نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.


توضیحاتی در مورد کتاب قدرت تداخل سنجی نوری / مادون قرمز: نتایج علمی اخیر و ابزار دقیق نسل دوم: مجموعه مقالات کارگاه ESO که در گارچینگ ، آلمان ، 4-8 آوریل 2005 برگزار شد



تداخل سنجی با خط پایه بلند به طور سنتی به عنوان یک روش بسیار فنی با تعداد محدودی از کاربردها در نظر گرفته می شود. در آغاز هزاره، با معرفی امکانات بزرگ جامعه محور مانند VLTI، ما شاهد تبدیل شدن به یک تکنیک بزرگ نجومی، با افزایش چشمگیر متناظر در تعداد انتشارات هستیم. این کتاب با ارائه بینشی گسترده و عمیق به تعداد زیادی از نتایج متنوع و قانع‌کننده که اخیراً توسط تداخل‌سنج‌های خط پایه بلند به‌دست آمده‌اند، این انتقال را نشان می‌دهد. همچنین بینشی از مفاهیمی که اساس ابزارهای آینده و پیشرفت‌های بیشتر در این تکنیک را تشکیل می‌دهند، ارائه می‌دهد.


توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی

Long-baseline interferometry has been traditionally regarded as a very technical method with a limited number of applications. At the turn of the millennium, with the introduction of large community-oriented facilities such as the VLTI, we are seeing a transformation into a major astronomical technique, with a corresponding dramatic increase in the number of publications. This book marks this transition, by providing a wide and deep insight into a large number of diverse and compelling results recently obtained by long-baseline interferometers. It also provides an insight into concepts which form the basis of future instruments and further developments in this technique.



فهرست مطالب

A New Generation of Micropositioning Devices for Optical Fiber with Submicrometric Metrology......Page 0




نظرات کاربران