دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
ویرایش: [1 ed.]
نویسندگان: Sleiman Bou-Sleiman. Mohammed Ismail (auth.)
سری: SpringerBriefs in Electrical and Computer Engineering
ISBN (شابک) : 9781441995476, 9781441995483
ناشر: Springer-Verlag New York
سال نشر: 2012
تعداد صفحات: 89
[105]
زبان: English
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود)
حجم فایل: 2 Mb
در صورت تبدیل فایل کتاب Built-in-Self-Test and Digital Self-Calibration for RF SoCs به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب خودآزمایی داخلی و خود کالیبراسیون دیجیتال برای SoCهای RF نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
این کتاب روشهای طراحی را معرفی میکند که با نامهای خودآزمایی داخلی (BiST) و کالیبراسیون داخلی (BiSC) شناخته میشوند، که استحکام فرکانس رادیویی (RF) و موج میلیمتری (mmWave) را افزایش میدهند. مدارهای مجتمع (ICs). این مدارها در ارتباطات جاری و در حال ظهور، محاسبات، محصولات چندرسانه ای و زیست پزشکی و ریزتراشه ها استفاده می شوند. روشهای طراحی ارائهشده منجر به افزایش بازده (درصد تراشههای کاری در حجم بالا) آیسیهای RF و mmWave میشود که ساخت موفق چنین ریزتراشههایی را در حجم بالا ممکن میسازد.
This book will introduce design methodologies, known as Built-in-Self-Test (BiST) and Built-in-Self-Calibration (BiSC), which enhance the robustness of radio frequency (RF) and millimeter wave (mmWave) integrated circuits (ICs). These circuits are used in current and emerging communication, computing, multimedia and biomedical products and microchips. The design methodologies presented will result in enhancing the yield (percentage of working chips in a high volume run) of RF and mmWave ICs which will enable successful manufacturing of such microchips in high volume.