ورود به حساب

نام کاربری گذرواژه

گذرواژه را فراموش کردید؟ کلیک کنید

حساب کاربری ندارید؟ ساخت حساب

ساخت حساب کاربری

نام نام کاربری ایمیل شماره موبایل گذرواژه

برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید


09117307688
09117179751

در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید

دسترسی نامحدود

برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند

ضمانت بازگشت وجه

درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب

پشتیبانی

از ساعت 7 صبح تا 10 شب

دانلود کتاب Built-in-Self-Test and Digital Self-Calibration for RF SoCs

دانلود کتاب خودآزمایی داخلی و خود کالیبراسیون دیجیتال برای SoCهای RF

Built-in-Self-Test and Digital Self-Calibration for RF SoCs

مشخصات کتاب

Built-in-Self-Test and Digital Self-Calibration for RF SoCs

ویرایش: [1 ed.] 
نویسندگان:   
سری: SpringerBriefs in Electrical and Computer Engineering 
ISBN (شابک) : 9781441995476, 9781441995483 
ناشر: Springer-Verlag New York 
سال نشر: 2012 
تعداد صفحات: 89
[105] 
زبان: English 
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) 
حجم فایل: 2 Mb 

قیمت کتاب (تومان) : 47,000



ثبت امتیاز به این کتاب

میانگین امتیاز به این کتاب :
       تعداد امتیاز دهندگان : 3


در صورت تبدیل فایل کتاب Built-in-Self-Test and Digital Self-Calibration for RF SoCs به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.

توجه داشته باشید کتاب خودآزمایی داخلی و خود کالیبراسیون دیجیتال برای SoCهای RF نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.


توضیحاتی در مورد کتاب خودآزمایی داخلی و خود کالیبراسیون دیجیتال برای SoCهای RF



این کتاب روش‌های طراحی را معرفی می‌کند که با نام‌های خودآزمایی داخلی (BiST) و کالیبراسیون داخلی (BiSC) شناخته می‌شوند، که استحکام فرکانس رادیویی (RF) و موج میلی‌متری (mmWave) را افزایش می‌دهند. مدارهای مجتمع (ICs). این مدارها در ارتباطات جاری و در حال ظهور، محاسبات، محصولات چندرسانه ای و زیست پزشکی و ریزتراشه ها استفاده می شوند. روش‌های طراحی ارائه‌شده منجر به افزایش بازده (درصد تراشه‌های کاری در حجم بالا) آی‌سی‌های RF و mmWave می‌شود که ساخت موفق چنین ریزتراشه‌هایی را در حجم بالا ممکن می‌سازد.


توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی

This book will introduce design methodologies, known as Built-in-Self-Test (BiST) and Built-in-Self-Calibration (BiSC), which enhance the robustness of radio frequency (RF) and millimeter wave (mmWave) integrated circuits (ICs). These circuits are used in current and emerging communication, computing, multimedia and biomedical products and microchips. The design methodologies presented will result in enhancing the yield (percentage of working chips in a high volume run) of RF and mmWave ICs which will enable successful manufacturing of such microchips in high volume.





نظرات کاربران