High-Resolution Electron Microscopy for Materials Science

میکروسکوپ الکترونی با وضوح بالا (HREM) به قدرتمندترین روش برای بررسی ساختار داخلی مواد در مقیاس اتمی حدود 0.1 نانومتر تبدیل شده است. نویسندگان به وضوح هر دو نظریه و عمل HREM را برای علم مواد توضیح می دهند. علاوه بر یک فرمول اساسی از فرآیند تصویربرداری HREM، توضیح مفصلی در مورد شبیه سازی تصویر وجود دارد که برای تفسیر تصاویر با وضوح بالا ضروری است. اطلاعات ضروری در مورد شرایط تصویربرداری مناسب برای مشاهده تصاویر شبکه و تصاویر ساختار ارائه شده است، و روش های استخراج اطلاعات ساختاری از این مشاهدات به وضوح نشان داده شده است، از جمله نمونه هایی در مواد پیشرفته. نابجایی ها، رابط ها و سطوح مورد بررسی قرار می گیرند و موادی مانند سرامیک های کامپوزیت، ابررساناهای با Tc بالا و شبه بلورها نیز در نظر گرفته می شوند. شامل بخش‌هایی درباره جدیدترین ابزارها و تکنیک‌ها، مانند صفحه تصویربرداری و HREM کمی است.

High-resolution electron microscopy (HREM) has become a most powerful method for investigating the internal structure of materials on an atomic scale of around 0.1 nm. The authors clearly explain both the theory and practice of HREM for materials science. In addition to a fundamental formulation of the imaging process of HREM, there is detailed explanation of image simulationindispensable for interpretation of high-resolution images. Essential information on appropriate imaging conditions for observing lattice images and structure images is presented, and methods for extracting structural information from these observations are clearly shown, including examples in advanced materials. Dislocations, interfaces, and surfaces are dealt with, and materials such as composite ceramics, high-Tc superconductors, and quasicrystals are also considered. Included are sections on the latest instruments and techniques, such as the imaging plate and quantitative HREM.