ورود به حساب

نام کاربری گذرواژه

گذرواژه را فراموش کردید؟ کلیک کنید

حساب کاربری ندارید؟ ساخت حساب

ساخت حساب کاربری

نام نام کاربری ایمیل شماره موبایل گذرواژه

برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید


09117307688
09117179751

در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید

دسترسی نامحدود

برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند

ضمانت بازگشت وجه

درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب

پشتیبانی

از ساعت 7 صبح تا 10 شب

دانلود کتاب Applied Scanning Probe Methods II: Scanning Probe Microscopy Techniques

دانلود کتاب روش‌های کاربردی کاوشگر روبشی II: تکنیک‌های میکروسکوپ پروب اسکن

Applied Scanning Probe Methods II: Scanning Probe Microscopy Techniques

مشخصات کتاب

Applied Scanning Probe Methods II: Scanning Probe Microscopy Techniques

ویرایش: 1 
نویسندگان: , , ,   
سری: NanoScience and Technology 
ISBN (شابک) : 9783540262428, 9783540274537 
ناشر: Springer-Verlag Berlin Heidelberg 
سال نشر: 2006 
تعداد صفحات: 455 
زبان: English 
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) 
حجم فایل: 11 مگابایت 

قیمت کتاب (تومان) : 32,000



کلمات کلیدی مربوط به کتاب روش‌های کاربردی کاوشگر روبشی II: تکنیک‌های میکروسکوپ پروب اسکن: نانوتکنولوژی، سطوح و واسط ها، لایه های نازک، علوم پلیمر، شیمی فیزیک، فیزیک حالت جامد و طیف سنجی، شیمی تحلیلی



ثبت امتیاز به این کتاب

میانگین امتیاز به این کتاب :
       تعداد امتیاز دهندگان : 17


در صورت تبدیل فایل کتاب Applied Scanning Probe Methods II: Scanning Probe Microscopy Techniques به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.

توجه داشته باشید کتاب روش‌های کاربردی کاوشگر روبشی II: تکنیک‌های میکروسکوپ پروب اسکن نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.


توضیحاتی در مورد کتاب روش‌های کاربردی کاوشگر روبشی II: تکنیک‌های میکروسکوپ پروب اسکن



جایزه نوبل 1986 در میکروسکوپی تونل تصویربرداری نشانگر عصر جدیدی در تصویربرداری بود. کاوشگرهای روبشی به عنوان یک ابزار جدید برای تصویربرداری با شکاف کافی برای ترسیم اتم های منفرد پدید آمدند. در ابتدا دو مورد وجود داشت: میکروسکوپ تونلی روبشی یا STM و میکروسکوپ نیروی اتمی یا AFM. STM متکی به الکترون هایی است که بین نوک و نمونه تونل می زنند در حالی که AFM به نیروی وارد بر نوک زمانی که در نزدیکی نمونه قرار می گیرد بستگی دارد. اینها به سرعت توسط میکروسکوپ نیروی M-netic، MFM، و میکروسکوپ نیروی الکترواستاتیک، EFM دنبال شدند. MFM یک بیت مغناطیسی را با ویژگی هایی به کوچکی 10 نانومتر تصویر می کند. با EFM می توان بار یک الکترون را کنترل کرد. پروفسور پل هانسما در سانتا باربارا زمانی که توانست از اجسام بیولوژیکی در محیط های آبی تصویربرداری کند، در را بازتر باز کرد. در این هنگام دروازه های دریچه باز شد و انبوهی از سازهای مختلف ظاهر شد. تفاوت های قابل توجهی بین میکروسکوپ های پروب روبشی یا SPM و موارد دیگر مانند میکروسکوپ الکترونی روبشی یا SEM وجود دارد. میکروسکوپ های کاوشگر نیازی به آماده سازی نمونه ندارند و در اتمسفر محیط کار می کنند، در حالی که SEM باید در محیط خلاء کار کند و نمونه باید مقطعی باشد تا سطح مناسب را نشان دهد. با این حال، SEM می‌تواند تصاویر و فیلم‌های سه بعدی را ضبط کند، ویژگی‌هایی که با پروب‌های اسکن در دسترس نیستند.


توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی

The Nobel Prize of 1986 on Sc- ningTunnelingMicroscopysignaled a new era in imaging. The sc- ning probes emerged as a new - strument for imaging with a p- cision suf?cient to delineate single atoms. At ?rst there were two – the Scanning Tunneling Microscope, or STM, and the Atomic Force Mic- scope, or AFM. The STM relies on electrons tunneling between tip and sample whereas the AFM depends on the force acting on the tip when it was placed near the sample. These were quickly followed by the M- netic Force Microscope, MFM, and the Electrostatic Force Microscope, EFM. The MFM will image a single magnetic bit with features as small as 10nm. With the EFM one can monitor the charge of a single electron. Prof. Paul Hansma at Santa Barbara opened the door even wider when he was able to image biological objects in aqueous environments. At this point the sluice gates were opened and a multitude of different instruments appeared. There are signi?cant differences between the Scanning Probe Microscopes or SPM, and others such as the Scanning Electron Microscope or SEM. The probe microscopes do not require preparation of the sample and they operate in ambient atmosphere, whereas, the SEM must operate in a vacuum environment and the sample must be cross-sectioned to expose the proper surface. However, the SEM can record 3D image and movies, features that are not available with the scanning probes.



فهرست مطالب

Higher Harmonics in Dynamic Atomic Force Microscopy....Pages 1-36
Atomic Force Acoustic Microscopy....Pages 37-90
Scanning Ion Conductance Microscopy....Pages 91-119
Spin-Polarized Scanning Tunneling Microscopy....Pages 121-141
Dynamic Force Microscopy and Spectroscopy....Pages 143-164
Sensor Technology for Scanning Probe Microscopy and New Applications....Pages 165-203
Quantitative Nanomechanical Measurements in Biology....Pages 205-239
Scanning Microdeformation Microscopy: Subsurface Imaging and Measurement of Elastic Constants at Mesoscopic Scale....Pages 241-281
Electrostatic Force and Force Gradient Microscopy: Principles, Points of Interest and Application to Characterisation of Semiconductor Materials and Devices....Pages 283-320
Polarization-Modulation Techniques in Near-Field Optical Microscopy for Imaging of Polarization Anisotropy in Photonic Nanostructures....Pages 321-360
Focused Ion Beam as a Scanning Probe: Methods and Applications....Pages 361-412




نظرات کاربران